荧光光谱仪又称荧光分光光度计，是一种定性、定量分析的仪器。通过荧光光谱仪的检测，可以获得物质的激发光谱、发射光谱、量子产率、荧光强度、荧光寿命、斯托克斯位移、荧光偏振与去偏振特性，以及荧光的淬灭方面的信息。

• 中文名

• 荧光光谱仪

• 激发光源

• Xe450W

• 激发单色仪

• 4nm/mm,200nm～700nm

• 光谱测量范围

• 240nm～850nm

1. 1荧光光谱仪简介

2. ▪结构

3. ▪分类

4. ▪原理

5. ▪主要用途

1. ▪类别指标

2. 2x射线荧光光谱仪

3. ▪主要用途

4. ▪仪器类别

1. ▪指标信息

2. ▪优点

3. 3应用领域

由光源、激发光源、发射光源、试样池、检测器、显示装置等组成。

荧光光谱仪可分为X射线荧光光谱仪和分子荧光光谱仪。

1.荧光激发光谱和荧光发射光谱

2.同步荧光（波长和能量）扫描光谱

3.3D（ExEmIntensity)

4.TimeBase和CWA(固定波长单点测量）

5.荧光寿命测量，包括寿命分辨及时间分辨

6.计算机采集光谱数据和处理数据（Datamax和Gram32)

仪器类别：03030429/仪器仪表/成份分析仪器/X荧光谱仪

指标信息：

激发光源Xe450W

激发单色仪：4nm/mm,200nm～700nm

发射单色仪：双色单仪，2nm/mm,300～1000nm

光谱测量范围：240nm～850nm

灵敏度：水喇曼信噪比4000：1（397nm/5nmbandpass)

寿命响应范围：10ps～10μs

新型型号

仪器是较新型X射线荧光光谱仪，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析F(9)～U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片，液体等，分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。薄膜分析软件FP-MULT1能作镀层分析，薄膜分析。测量样品的最大尺寸要求为直径51mm,高40mm.

0303040903/仪器仪表/成份分析仪器/荧光光度计

1.发射源是Rh靶X光管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW2.仪器在真空条件下工作，真空度